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精測(cè)電子Micro-LED CT AOI檢測(cè)設(shè)備成功交付省級(jí)實(shí)驗(yàn)室

字體變大  字體變小 發(fā)布日期:2024-09-24  瀏覽次數(shù):1015
核心提示:  9月19日,精測(cè)電子(300567)Micro-LED CT AOI檢測(cè)設(shè)備順利出機(jī)正式交付某省級(jí)實(shí)驗(yàn)室客戶,此實(shí)驗(yàn)室是由當(dāng)?shù)厥∥≌鷾?zhǔn)成立的當(dāng)?shù)厥准沂〖?jí)實(shí)驗(yàn)室,且是由當(dāng)?shù)匾患?11高校舉辦的獨(dú)立法人事業(yè)單位。這是精測(cè)電子自主研發(fā)的Micro-LED CT AOI設(shè)備首次在高校實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)學(xué)研領(lǐng)域成功交付,標(biāo)志著精測(cè)電子在泛半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域取得又一重要突破。
 

  9月19日,精測(cè)電子(300567)Micro-LED CT AOI檢測(cè)設(shè)備順利出機(jī)正式交付某省級(jí)實(shí)驗(yàn)室客戶,此實(shí)驗(yàn)室是由當(dāng)?shù)厥∥≌鷾?zhǔn)成立的當(dāng)?shù)厥准沂〖?jí)實(shí)驗(yàn)室,且是由當(dāng)?shù)匾患?11高校舉辦的獨(dú)立法人事業(yè)單位。這是精測(cè)電子自主研發(fā)的Micro-LED CT AOI設(shè)備首次在高校實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)學(xué)研領(lǐng)域成功交付,標(biāo)志著精測(cè)電子在泛半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域取得又一重要突破。

  精測(cè)電子自主研發(fā)的晶圓外觀檢測(cè)設(shè)備主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓廠、封測(cè)廠及 Micro-LED、 Mini-LED新型顯示晶圓前后道缺陷檢測(cè):主要采用顯微光學(xué)方案針對(duì)晶圓的μm級(jí)外觀缺陷進(jìn)行檢測(cè)及量測(cè);同時(shí)可擴(kuò)展到晶圓Bumping 3D量測(cè)及 LED 3D量測(cè)應(yīng)用。晶圓外觀檢查機(jī)設(shè)備軟算全自主開發(fā),擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán),結(jié)合精測(cè)電子在質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域的多年技術(shù)經(jīng)驗(yàn)積累,助推晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)備國產(chǎn)化應(yīng)用。

  Micro-LED CT AOI檢測(cè)設(shè)備在省級(jí)實(shí)驗(yàn)室的順利交付是精測(cè)電子在泛半導(dǎo)體檢測(cè)板圖上的又一重大突破。未來,精測(cè)電子將繼續(xù)秉持著良率管理專家的行業(yè)定位,深耕品牌,精耕技術(shù),推動(dòng)泛半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同進(jìn)步,助力行業(yè)快速發(fā)展。

 
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